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手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。
手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。
我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。
为什么选择 X-MET 光谱仪
性能优良
X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可随时提供准确可靠结果。
通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。
坚固耐用而拥有成本低
• 符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供野外使用。
通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。
其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。
操作简单
大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户几乎不需要培训便可开始操作。
符合人体工学
X-MET轻便(包含电池仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而较大降低了疲劳强度。
高级数据管理
完全灵活:可将多达10万条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或PC,通过WiFi将X-MET数据同步到智能手机或存储在云服务器。
应用
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X-MET8000 |
X-MET8000 |
X-MET8000 |
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环境土壤筛查 |
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X-MET8000 |
✔
X-MET8000 |
为预防潜在产品事故及其昂贵的后果,在不同生产阶段中进行质量控制和质量保证至关重要。通过手持式X射线荧光(HHXRF),您可以在进料送达时进行快速检查,并且确认从制造到送货过程中使用了合格的合金材料。
为何选择X-MET8000 系列手持式合金分析仪来完成此任务?
X-MET提供:
为快速和可靠金属分析提供实验室级别的性能
为准确的合金牌号鉴定提供多种和可定制的合金牌号数据库
坚固耐用而拥有成本低
使用方便:用户几乎不需培训
多样化数据管理:将数据存储到分析仪、创建测试报告或使用我们手机APP和云服务,随时随地管理您的数据。
| 手持式X荧光光谱仪应用于土壤重金属检测 |
| 土壤污染由工业流程(如采矿和制造)、农业(使用肥料和杀虫剂)或废物处理(如错误地进行垃圾填埋)等人类活动逐渐造成。 |
| 暴露在某些污染物中如铅和镉等元素对人体健康有害,许多国家已经制定了相关法规和方案,以识别污染区域并管理修复过程(补救)。 |
| 例如,作为美国废物管理计划的一部分,美国环保局引入了6200标准,通过现场便携式/手持式X射线荧光(XRF)光谱法,确定土壤和沉积物中的关键元素。 |
| 操作者可以使用HHXRF,快速在现场筛选重金属和其他污染物。这使他们能够极大减少送到场外实验室进行分析的样本数量,并降低了分析成本和完成测试程序所需的时间。通过孤立问题区域和在现场确定补救边界,操作者可较大限度地减少土壤处理和处置成本。 |
| 为何选择X-MET8000 GEO? |
| 优良的性能:利用我们革命性的BOOST™技术和大面积硅漂移探测器,满足当今和未来的检测要求。它们提供了相当于其他HHXRF型号10倍的灵敏度,为测量土壤、污泥和沉积物中关键元素(例如美国EPA 6200方法RCRA和优先元素)提供所需的低检测限制 |
| 快速分析:快速完成调查 |
| 杰出的稳定性:无论环境如何,您都可以信赖结果。 |
| 因坚固耐用而降低拥有成本,并使尽力避免因仪器而停工。 |
| 易于使用:几乎不需要用户培训 |
| 嵌入式GPS:将地理坐标与测试结果相结合,实现站点映射。 |
| 强大的数据管理功能:随时随地通过蓝牙打印机打印结果,并将其附在样本袋上,以避免混淆;将其导出到U盘,或使用我们的手机APP和云服务随时随地实时管理结果 |
型号
| X-MET8000 Smart | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Expert |
| X射线管:40kV |
X射线管:40kV or 50kV
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X射线管:50kV
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| 滤光片:单一 | 滤光片:六位 | 滤光片:六位 |
| 检测器:大面积 SDD | 检测器:大面积 SDD | 检测器:大面积 SDD |
| 最高样本温度:400ºC | 最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC(可选) | 最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC(可选) |
| 符合 IP54 等级 | 符合 IP54 等级 | 符合 IP54 等级 |
| Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器窗口损坏 | 可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护 | 可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护 |
| 校准:基本参数法(FP) | 校准:基本参数法 (包括轻元素分析) | 校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯) |
| 内置摄像头 (可选) | 内置摄像头(可选) | 内置摄像头 |
| 小光班准直器(可选) | 小光班准直器 (可选) | |
| 针对所有从镁到铀元素进行优先分析 | 针对所有从镁到铀元素进行优先分析 |
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