X-MET系列手持光谱仪（采矿与勘探）

  手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。

  我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。

  为什么选择 X-MET 光谱仪

  性能优良

  X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析，检测限度低，且可随时提供准确可靠结果。

  通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。

  坚固耐用而拥有成本低

  • 符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供野外使用。

  通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。

  其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

  操作简单

  大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户几乎不需要培训便可开始操作。

  符合人体工学

  X-MET轻便(包含电池仅1.5公斤)、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而较大降低了疲劳强度。

  高级数据管理

  完全灵活：可将多达10万条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或PC，通过WiFi将X-MET数据同步到智能手机或存储在云服务器。

  应用

  为预防潜在产品事故及其昂贵的后果，在不同生产阶段中进行质量控制和质量保证至关重要。通过手持式X射线荧光(HHXRF)，您可以在进料送达时进行快速检查，并且确认从制造到送货过程中使用了合格的合金材料。

  为何选择X-MET8000 系列手持式合金分析仪来完成此任务?

  X-MET提供：

  为快速和可靠金属分析提供实验室级别的性能

  为准确的合金牌号鉴定提供多种和可定制的合金牌号数据库

  坚固耐用而拥有成本低

  使用方便：用户几乎不需培训

  多样化数据管理：将数据存储到分析仪、创建测试报告或使用我们手机APP和云服务，随时随地管理您的数据。

手持式X荧光光谱仪应用于采矿

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析仪在采矿的多个阶段——从早期探索到现场关闭后的环境监控——提供快速、现场的地球化学分析。这极大减少了对实验室分析的需求，加快了决策过程并降低了检测成本。

为什么选择X-MET8000 GEO?

优良的性能：我们的革命性BOOST™技术和大面积硅漂移探测器提供相当于其他HHXRF型号10倍的灵敏度，提供测量探路仪或惩罚元件所需的低限探测范围。

快速分析：在几秒钟内测量多达40个元素;快速完成测试程序。

因坚固耐用而降低拥有成本，并使尽力避免因仪器而停工。

杰出的稳定性：无论环境如何，您都可以信赖结果。

易于使用：几乎不需要用户培训。

内置GPS：将地理坐标与测试结果相结合，实现站点映射。

强大的数据管理功能：随时随地通过蓝牙打印机打印结果，并将其附在样本袋上，以避免混淆;将其导出到U盘，或使用我们的手机APP和云服务随时随地实时管理结果。

  型号

X-MET8000 Smart	X-MET8000 Optimum	X-MET8000 Expert
X射线管：40kV	X射线管：40kV or 50kV	X射线管：50kV
滤光片：单一	滤光片：六位	滤光片：六位
检测器：大面积 SDD	检测器：大面积 SDD	检测器：大面积 SDD
最高样本温度：400ºC	最高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC（可选)	最高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC（可选)
符合 IP54 等级	符合 IP54 等级	符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器窗口损坏	可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护	可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准：基本参数法(FP)	校准：基本参数法 （包括轻元素分析）	校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）
内置摄像头 (可选)	内置摄像头（可选）	内置摄像头
	小光班准直器（可选）	小光班准直器 （可选)
	针对所有从镁到铀元素进行优先分析	针对所有从镁到铀元素进行优先分析