X-MET系列手持光谱仪（金属表面处理/电镀/涂层分析）

  手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。

  我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。

  为什么选择 X-MET 光谱仪

  性能优良

  X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析，检测限度低，且可随时提供准确可靠结果。

  通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。

  坚固耐用而拥有成本低

  • 符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供野外使用。

  通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。

  其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

  操作简单

  大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户几乎不需要培训便可开始操作。

  符合人体工学

  X-MET轻便(包含电池仅1.5公斤)、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而较大降低了疲劳强度。

  高级数据管理

  完全灵活：可将多达10万条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或PC，通过WiFi将X-MET数据同步到智能手机或存储在云服务器。

  应用

  为预防潜在产品事故及其昂贵的后果，在不同生产阶段中进行质量控制和质量保证至关重要。通过手持式X射线荧光(HHXRF)，您可以在进料送达时进行快速检查，并且确认从制造到送货过程中使用了合格的合金材料。

  为何选择X-MET8000 系列手持式合金分析仪来完成此任务?

  X-MET提供：

  为快速和可靠金属分析提供实验室级别的性能

  为准确的合金牌号鉴定提供多种和可定制的合金牌号数据库

  坚固耐用而拥有成本低

  使用方便：用户几乎不需培训

  多样化数据管理：将数据存储到分析仪、创建测试报告或使用我们手机APP和云服务，随时随地管理您的数据。

手持式X荧光光谱仪应用于金属表面处理/电镀/涂层分析

金属涂层在许多行业中被使用，并被用于装饰用途（如镜面抛光、金色），以增强耐腐蚀性、提高可焊性、增加硬度、减少摩擦和磨损等等。

为确保所覆涂层的厚度足以赋予零件和部件其所需的性能，且不会因涂层过厚而浪费材料，电镀公司需控制其工艺，并检查最终产品是否符合规格。

基于X射线荧光(XRF)的涂层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。手持式XRF提供全面的多功能性：您可以将分析仪带到需要测试的地方。

为什么选择X-MET8000？

操作简单：X-MET拥有“对准—检测”的直观用户界面；几乎不需要用户培训

快速、非破坏性的分析：快速制定流程变更决定；被检零件无刮痕或其他损坏；不浪费

多功能：分析涂层和未涂层零件以及电镀液

检测笨重和大型项目的理想之选

坚固耐用：IP54评级（密封防尘和防溅水），通过MIL-STD 810G检测，坚固耐用，X-MET为在恶劣环境使用而设计

  型号

X-MET8000 Smart	X-MET8000 Optimum	X-MET8000 Expert
X射线管：40kV	X射线管：40kV or 50kV	X射线管：50kV
滤光片：单一	滤光片：六位	滤光片：六位
检测器：大面积 SDD	检测器：大面积 SDD	检测器：大面积 SDD
最高样本温度：400ºC	最高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC（可选)	最高样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗口400ºC（可选)
符合 IP54 等级	符合 IP54 等级	符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器窗口损坏	可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护	可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护
校准：基本参数法(FP)	校准：基本参数法 （包括轻元素分析）	校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）
内置摄像头 (可选)	内置摄像头（可选）	内置摄像头
	小光班准直器（可选）	小光班准直器 （可选)
	针对所有从镁到铀元素进行优先分析	针对所有从镁到铀元素进行优先分析